Neue Produkte vom 04/15/2014

Mahr

Messplatz misst im Subnanometerbereich

(Bild: Mahr)

Der Weißlichtinterferometer MarSurf WM 100 von Mahr ist für schnelle Messungen von feinen und feinsten Oberflächendetails im Nanometerbereich geeignet. Das flächenerfassende Messverfahren ermöglicht in nur wenigen Sekunden aussagekräftige topografische Messergebnisse der Oberflächenbeschaffenheit. Eine leistungsstarke Auswertesoftware unterstützt die individuelle Darstellung der Messergebnisse und damit die Qualitätssicherung der Werkstücke.Der optische Messplatz ist ein Weißlichtinterferometer mit einer Auflösung im Subnanometerbereich. Konzipiert für die Qualitätssicherung feinster technischer Oberflächen wie auf optischen Elementen oder ähnlichen polierten, spiegelnden Oberflächen.

Im Einsatz ist das Messsystem derzeit vorwiegend bei Herstellern sphärischer und asphärischer Linsen. Möglich sind Analysen der Oberflächen in 2D und 3D. Die kombinierte phasenschiebende und kurzkohärente Interferometrie bietet höchste Messpräzision auch über λ/2 Sprünge. Die Hochleistungsobjektive minimieren dabei optische Verzeichnungsfehler. Ein winkelverstellbarer Messtisch ermöglicht eine präzise Positionierung des Messobjektes. (uk)

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