Der Ringoszillator gehört zu den wichtigsten Teststrukturen für Parametertests von CMOS-Wafern
(Fachartikel vom 20.08.2013) Mit den damit gewonnenen Testdaten lässt sich beispielsweise überprüfen, ob die Logikgatter die im Design vorgesehenen Geschwindigkeitskriterien erfüllen. [weiter...]