Fehlersuche an modernen FPGAs mit Mixed-Signal-Oszilloskopen hoher Bandbreite

Zugriff auf das FPGA-Innenleben

(Fachartikel aus MECHATRONIK 5/2013, S. 38 bis 39) Vor allem die große Anzahl interner Schaltungsknoten, auf die nicht mit Prüfspitzen zugegriffen werden kann, macht die Fehlersuche an FPGAs so schwierig. Mittlerweile setzen sich dafür zunehmend Mixed-Signal-Oszilloskope durch.  [weiter...]

Agilent Technologies

Oszilloskope mit kapazitivem Touchscreen und Touch-Triggering

(Neue Produkte vom 27.11.2012)  Agilent Technologies präsentiert die neuartigen Digital- und Mixed-Signal-Oszilloskope der InfiniiVision 4000 X-Serie. [weiter...]